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一、铂电阻测温元件类型

•  薄膜铂电阻: 用真空沉积的薄膜技术把铂溅射在陶瓷基片上,膜厚在 2μm以内,用玻璃烧结料把Ni (或Pd)引线固定,经激光调阻制成薄膜元件。

•  薄膜铂电阻系列

型号

外形尺寸

W×L×Hmm

标称阻值

Ro

工作电流

mA

引线尺寸

W×L×Hmm

工作温度

误差

CRZ-1632-Ni

1.6×3.2×1.0

100Ω

1

0.25×0.15×12

-40~400℃

1/3DIN

A

B

2B

CRZ-1632-Pd

0.3×0.2×10

-50~500℃

CRZ-2005-Ni

2.0×5.0×1.0

2

0.25×0.15×12

-40~450℃

CRZ-2005-Pd

0.3×0.2×10

-50~500℃

CRZ-2005-Ni

500Ω

1000Ω

0.5

0.25×0.15×12

-40~450℃

CRZ-2005-Pd

0.5

0.3×0.2×10

-50~500℃

二、性能和参数

•  铂电阻元件的温度系数 TCR

TCR=R 100 -R 0 / R 0 ×100

其中

R 100  在100℃时的电阻值

R 0     在0℃时的电阻值

我们提供符合 IEC751标准的TCR=0.003851的铂电阻元件,此外,我们也可为客户提供其它温度系数的电阻元件,如TCR=0.003750等。

•  铂电阻元件的温度-电阻特性

R T =R 0 [1+aT-bT 2 -cT 3 (T-100)]

R T 在温度T时的电阻值

R 0 在零度时的电阻值

a b c 系数

TCR=0.003851时的系数

温度

a

b

c

T<0

3.90802×10 -3

5.80195×10 -7

4.27351×10 -12

T≥0

3.90802×10 -3

5.80195×10 -7

0

•  铂电阻元件的误差

级别

零度时阻值误差( %)

温度误差(℃)

温度系数 TCR误差(ohm/ohm/℃)

1/3DIN

± 0.04

±( 0.10+0.0017|T|)

0.003851±0.00004

A

± 0.06

±( 0.15+0.002|T|)

0.003851±0.00005

B

± 0.12

±( 0.30+0.005|T|)

0.003851±0.00012

2B

± 0.25

±( 0.60+0.01|T|)

0.003851±0.000024

•  铂电阻元件的稳定性

铂电阻元件有良好的长期稳定性,例如 CRZ-1632在400℃时持续300小时,0℃时的最大温度漂移仅为0.02℃。

•  铂电阻元件的热响应时间

型号

热响应时间 T 0.9 (秒)

空气

V=1.0m/s

V=3.0m/s

CRZ-1632

10

7

0.3

CRZ-2005

16

11

0.3

•  铂电阻元件的自热和测试电流

铂电阻元件的测试电流不应超过允许值,例如 CRZ-1632元件装在没有任何填充物的ф8mm保护管内,保护管设在0 ℃的搅拌水中,当测试电流为 1 mA时,温升为0.05℃;当测试电流为5 mA时,温升为2.2℃。

•  铂电阻元件的自热系数

型 号

自热系数( mW/ ℃ )

空气

静水

V=1.0m/s

静止

CRZ-1632-100

2

1

12

CRZ-2005-100

4

2

20

CRZ-2005-1000

4

2

20

•  温度-阻值表

标称阻值( Ω )

100

500

1000

TCR(10 -6 /K)

3851

温度(℃)

电阻值( Ω )

-50

80.31

401.53

803.07

0

100.00

500.00

1000.00

50

119.40

596.98

1193.95

100

138.51

692.50

1385.00

150

157.33

786.57

1573.15

200

175.86

879.20

1758.40

250

194.10

970.37

1940.74

300

212.05

1060.09

2120.19

350

229.72

1148.37

2296.73

400

247.09

1235.19

2470.38

450

264.18

1320.56

2641.12

500

280.98

1404.48

2808.96

550

297.49

1486.95

2973.90

600

313.71

1567.97

3135.94

650

329.64

1647.54

3295.08

三、使用 CRZ薄膜元件的注意事项:

•  直接使用元件或制成温度传感器测温时,避免超过测温量程,短时间内虽不会损坏亦影响产品寿命。

•  用 CRZ元件组装温度传感器时,在使用高温固化环氧灌封时,应注意其在固化的过程中应力的变化过程,否则可能损坏元件(一般为开路)°在使用氧化镁或氧化铝充填过程中,应避免元件直接接触尖锐的内表面,否则在振动过程中,有可能使元件的瓷片边缘破损,造成元件开路损坏。

•  在制做温度传感器时,必须保证灌封材料的高度绝缘性能,否则会导致产品的电气绝缘性能降低,并且影响元件的零度测试数据,一般会导致 R 0 偏低。

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